X射線衍射儀的原理是什麽

     X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析，在當今科技領域裏用來分析各種物質成分結構的測試儀器已得到了廣泛的應用。廣泛應用於冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產等領域。
   
    X射線衍射儀都是物質表征和質量控製*的方法。XRD能分析晶體材料諸如產業廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析，大部分晶體物質的定量、半定量分析；晶體物質晶粒大小的計算；晶體物質結晶度的計算等。

    x射線的波長和晶體(ti) 內(nei) 部原子麵之間的間距相近，晶體(ti) 可以作為(wei) X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體(ti) 上時，受到物體(ti) 中原子的散射，每個(ge) 原子都產(chan) 生散射波，這些波互相幹涉，結果就產(chan) 生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體(ti) 結構。

    對於(yu) 晶體(ti) 材料，當待測晶體(ti) 與(yu) 入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶麵就會(hui) 被檢測出來，體(ti) 現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對於(yu) 非晶體(ti) 材料，由於(yu) 其結構不存在晶體(ti) 結構中原子排列的長程有序，隻是在幾個(ge) 原子範圍內(nei) 存在著短程有序，故非晶體(ti) 材料的XRD圖譜為(wei) 一些漫散射饅頭峰。